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航空航天装备电子元器件国产化替代质量控制探讨
[发布时间]:2019年7月2日 [来源]:网络 [点击率]:12762
【导读】: 随着航空航天装备不断向高集成度、多功能、低功耗方向发展,迫切需要小型化、高性能、高效率、高可靠性的电子元器件。近年来,随着新品等项目的牵引和国内各元器件研制单位的技术攻关,国产电子元器件的性能水平...

  随着航空航天装备不断向高集成度、多功能、低功耗方向发展,迫切需要小型化、高性能、高效率、高可靠性的电子元器件。近年来,随着新品等项目的牵引和国内各元器件研制单位的技术攻关,国产电子元器件的性能水平取得了长足发展,部分国产电子元器件的性能已接近或达到了国际先进水平;但大规模集成电路、大功率器件、光电器件等元器件仍有部分依赖进口。
  我国是电子元器件的生产大国,同时也是应用大国。以集成电路为例,2011年我国的需求量约占全球需求量的50.3%到2013年已增加到约54%。使用进口电子元器件不仅会在信息安全、质量控制等方面存在隐患,同时因器件禁运、停产导致的生产保障困难等问题也已经严重制约了我国航空航天装备的发展。

  元器件国产化的必要性和意义
  电子元器件是航空航天装备的基本单元,电子元器件的可靠性是保证航空航天装备可靠性的基础。由于功能、性能、质量、研制进度等因素,航空航天装备选用了部分进口电子元器件。当前进口电子元器件在航空航天装备中的使用存在以下问题。

  1.保障困难
  随着新工艺、新技术的发展,电子元器件更新换代周期缩短。以集成电路为例,按照摩尔定律,每18个月其尺寸缩小一半,而集成度提升一倍。由于元器件的升级换代,以及国外厂商合并重组等原因导致的元器件停产,给很多已服役和仍在生产的航空航天装备的维护和生产带来了很大困难。
  同时,以美国为首的西方国家形成联盟,长期对我国实行严格的出口限制政策。以美国为例,制定了严格的政策和相关措施限制高新技术及产品出口。美国商务部制定了商品管制清单(Commerce Control List, CCL),严禁将清单内的电子元器件出口到相关国家和地区。部分电子元器件的禁运也给我国高性能航空航天装备的研制和生产造成了一定影响。

  2.安全隐患
  由于西方国家的技术先进性和国家间利益冲突,进口电子元器件可能会在设计、制造、封装、测试等环节被人为植入后门,如IP核可能被嵌入后门、掩膜制版及高端封装也可植入后门。这些后门可窃取我国装备的数据甚至摧毁设备,并可能进一步通过网络传播病毒和木马,严重影响我国的信息安全。2008年,美国国家安全局的一台发电机控制系统受到攻击后造成物理损坏。2010年,德国发现首个专门针对工业控制系统芯片的破坏性病毒。可见,在国防和信息安全建设中如果不能实现电子元器件的自主可控,则会始终处于受制于人、被动挨打的局面。

  3.质量风险
  由于各种客观因素,航空航天装备使用了部分工业级元器件,这些工业级元器件大多通过代理商购买,无法获取相关的质量证明文件,个别已停产元器件甚至是翻新件。同时,部分大规模集成电路国内也无相应的测试手段。因此,部分进口电子元器件的性能参数、可靠性水平等往往只能随设备进行测试,无法预先开展检测和筛选工作,导致在设备使用过程中可能存在参数异常、早期失效等情况。进口电子元器件存在的质量风险已严重影响了航空航天装备的研制、生产和质量保证。
  在进口元器件形势日益严峻的今天,元器件的国产化控制显得尤为重要。2006和2011年,我国分别颁布了相关要求和管理办法,对进口元器件的使用提出了规格比和数量比的量化指标要求,贯彻了总装关于加强武器装备使用进口电子元器件管理,从严控制、量化考核的指示精神。

  元器件国产化替代中的问题
  随着国际斗争的复杂化,航空航天装备关键电子元器件形势日益严峻。航空航天装备使用进口电子元器件保障困难,在安全隐患、质量风险等方面存在诸多问题。因此,大力推进进口电子元器件的国产化替代,已经成为一项构筑国家信息安全、保卫国家独立外交能力的紧迫而艰巨的任务。近年来,我国已在元器件国产化替代方面加大投入并取得了很大进展,但由于各单位在元器件国产化替代方面执行力度不一,元器件国产化替代仍存在一些问题。

  1.缺乏指导性文件
  由于顶层管理文件不完善,目前国内尚无指导性文件规范国产新研电子元器件的研制、生产、鉴定和应用验证等工作,无法对元器件国产化替代工作进行有效的控制和监督。同时,部分装备研制单位虽然自行制定了单位内部的元器件国产化替代制度,但由于设计、工艺、加工等因素,国产化替代验证只能结合实际的模块、整机统筹开展,难以全面验证元器件的性能。

  2.参数体系不完整, 测试覆盖不全
  我国电子元器件生产起步晚,早期主要以仿制进口电子元器件为主。受各种客观条件和进口电子元器件知识产权保护的限制,仿制元器件无法保证设计、材料、工艺与进口元器件完全一致,且由于参数体系不完整、性能指标测试覆盖不全,测试合格的元器件仍然可能存在未被激发的缺陷。如某国产可编程逻辑器件 (CAL) 只能在某些特定的电路中做开关,而无法进行时序管理。

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