日本NLT科技在美国波士顿举行的“SID 2012”上发表了关于On-cell型触摸面板新型降噪技术的论文（论文序号：37.2）。该公司曾在2010年的SID上发布过自主开发的On-cell型触摸面板，该面板利用彩色滤光片基板与偏光板之间的防静电ITO膜作为检测触摸的表面电极，屏幕尺寸为3.5英寸，但存在屏幕尺寸增大后液晶面板的噪声变得明显，导致触摸面板误操作的问题。为解决这个问题，该公司开发出了此次的新型抗噪技术。

通常的降噪方法是采用带通滤波器，但是与信号频率相同的噪声会通过带通滤波器。而此次的降噪技术连这种噪声也能除掉。下面介绍具体的实现方法。

NLT科技的On-cell型触摸面板可在一定时间内持续向表面电极施加正弦波电压，因此能够在手指靠近触摸面板时，捕捉到从表面电极向手指方向流动的电流，从而检测到触摸输入。此次发布的降噪技术会周期性地施加正弦波电压，将加载电压时与未加载电压时的波形进行比较，可以推测出噪声的振幅和相位。去除该噪声后，就可以找出没有误操作的触摸检测所需要的信号。据NLT科技发表的论文介绍，现已将信噪比（S/N）从4.3提高至23.1。该公司此次试制出了采用该降噪技术的10.4英寸SVGA面板，并在SID 2012会场上进行了展示。