可在拍摄的同时，辨别并显示目标物所在方位，8个基点的罗盘读数可轻松帮助用户和他人了解故障区域的方向和位置，尤其是在大范围的检测地点或建筑检测环境的情况下，这一点尤为重要。

    另外，Fluke独有的SmartView 专业红外分析软件，具有先进的分析功能，快速报告和可自定义报告， 使用简单、无许可证限制，终身免费升级。

    Mentor GraphicsT3Ster 热阻测试仪　

    瞬态测试台以及多个配件(恒温器，功率放大器，热电偶信号前端放大器，JEDEC标准的测试温箱，测试板以及特殊设备：测试TIM以及PWB需要用到的设备，等)。

    针对LED照明行业，它配置TERALED系统，通过温度和电流函数，自动测试功率LED的热特性和光特性。T3Ster的先进技术变革了工程师处理热测试问题的方法：

1.启动测试延迟时间1 微秒 （市场上其他产品延迟时间为1毫秒）

2.测试周期短，以“秒、分钟”为单位 （市场上其他产品以天为单位）

3.采样点高达65000个，测试可重复性好

4.高信噪比，SNR>4000, FoM=10000 W/℃

5.结温测试精度：0.01℃

    测试结果可用于芯片以及TIMs的热失效分析。 T3Ster测得的功率封装元器件的动态热模型可导入到CFD工具中运行仿真分析，也适用于电路模拟器分析。

   安捷伦N6781A 数字源表模块　

“有两件事情制约了无线通信行业的发展：带宽和电池寿命”。这是Palm 公司CEO Jon Rubinstein的名言。我们每个人手中的智能手机，其强大的功能已经超越了几年前的电脑。但目前的电池技术，却远落后于手机性能的提高。因此，无论是对于手机芯片、零部件还是整机的研发，都会将耗电性能作为优先考虑的事情。精确测量和评估手机及芯片的耗电特性，成为众多研发工程师迫切需要完成的工作。

    手机的耗电特性非常特殊，其工作电流范围涵盖从微安级的关机漏电流，到安培级的瞬间发射电流，电流脉冲变化在微秒级，而变化频率也会达到数千赫兹。所以市场上常用的测试设备，诸如示波器、万用表、高分辨率数字化仪等，由于分辨率或测试速度的限制，无法完成这项颇具挑战的测试任务。

    安捷伦公司的系统产品事业部开创一项全新技术突破了这个难关。在最新推出的N6871A SMU模块中，采用了“无缝量程切换”的独特技术，它能在给手机或芯片供电的同时，对电流实行从纳安级到安培级连续、无缝隙的高速测量，等效分辨率高达28bit、200KHz/秒采样率、512K点的存储深度，保证了对手机及芯片耗电的精确捕获和分析。这就如同用一个超高分辨率的高速摄像机，跟踪拍摄飞奔的雄狮，一旦定格在任意一帧图像，即使将其放大1万倍，图像仍然毫发毕现。