降低测试成本

    一个测试系统的经济影响通常是计算所有待测试产品上的均摊成本。如应用于手机生产的功能测试系统，可能导致生产一部手机会增加2美元成本。测试的成本是一个非常重要的指标，因为它是反映一个系统能达到的测试产能和生产率的费用支出。因此，降低测试成本是制造业者的重要目标，它可提供巨大的竞争力优势。 

    策略1——提高测试系统产能

    提高产能是每个量产制造业者的目标，在许多生产线，功能测试不能跟上生产线产出的节拍。由于人们通常不可能为了适应测试节拍而降低生产线产出速度，所以最常用的解决方案就是在每条生产线后面安排多台功能测试设备，以跟上生产线产能，这种情况一般被称为扇出。降低测试时间可以避免增加测试设备，从而降低设备投资支出。

    与其它硬件平台相比，PXI平台具有极大的性能优势。基于业界标准PCI总线技术的PXI可提供高达132M字节/秒的数据流量，超过一个GPIB部件的数据流量100多倍。高的数据流量就意味着你可以从测量部件快速地将测量数据传送到计算机，以便你做出决定或记录数据，这样就可大大减少部件的测试时间。 

    为了进一步提高产能，P X I 提供了星形触发(star- triggering)功能。使用星形触发，几个PXI部件可以保持触发和时钟型号的即时同步。在许多应用场合，使用星形触发可以将产能提高10倍以上。

    为了降低测试运行时间，诸如LabVIEW和Measurement Studio等环境具有多线程处理能力，实现快速程序开发和快速程序运行相结合。例如，LabVIEW含有一个图像编译器，它可智能化地一起成组各部分的测试代码，实现并行运行，也可将整个测试模块汇编成机器代码，其运行速度与C等编译语言程序代码相当。

    IVI是一个可互换的虚拟仪器驱动程序标准。它具有状态缓存驱动模型，以减少对系统的冗余呼叫，从而大大地提高系统性能。与那些没有状态缓存技术的传统驱动程序相比，IVI仪器驱动程序可使系统性能提高了10倍以上。 

    为了处理功能测试的扇出，许多制造商将多台独立的同样的测试设备并行放置，然而，这一方法的设备投资效率很低，因为甚至在用的工具都要在每台设备上复制一套。一个更为有效的方法是在一台测试设备上，有多个测试槽，可以并行测试几个部件。并行测试测量可最大效率地利用设备， 因为它的投资最大。在用的工具可以在多个槽中共用，为了最大化产能，也可以在每个槽都复制一些常用的工具。 

    策略2——提高工程生产率

    当前制造业者都普遍面临缩短产品上市时间的压力。 在消费类电子产品和通信设备市场上，产品生命周期已经从18个月缩短到6个月以内，能否快速将产品投入量产并上市，是决定产品是否成功的关键。在高度竞争的市场领域，如产品的上市时间推迟6个月，可能会导致产品整个生命周期的累积利润下降30％以上，在这种情况下，要求必须快速地开发出制造测试系统，在产品改版时能快速地调整测试设备。 

    基于现有商用技术而开发的平台具有先天的生产率优势。如PXI利用标准的Intel和微软平台的优势，可支持部件的即插即用，部件配置简单、兼容性好。PXI测量部件的柔性也比专利技术平台的要好，因为PXI部件只进行原始测量，而利用软件进行分析和决策。这样，当新产品要进行生产时，使用PXI的系统可以很快地在软件上增加测量程序，通常不需要改变硬件。

    为了实现测试开发效率的最大化，开发环境专门为测试应用而设计，包括测量和分析所需的相应工具。另一个最大化生产率的方法是尽可能地利用现有的商用软件，而不是开发专门的定制软件包。如许多机构都开发他们自己的测试管理程序，而不是使用现有的软件产品。花费宝贵的工程时间去再开发市场上已有的软件会降低整个生产率，而且以后还要耗费更多的资源去维护软件。当今成功的制造业者会充分利用现有的各种资源，而集中力量在核心竞争力上，如产品的设计和测试策略。