半导体元器件零缺陷需求呼声日益高涨
[发布时间]：2012年3月9日
[来源]：华强电子网
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【导读】： 随着汽车中电子元器件数量的不断增加，必须严格控制现代汽车中半导体元器件的品质以降低每百万零件的缺陷率(DPM)，将与电子元器件相关的使用现场退回及担保等问题最小化，并减少因电子元器件失效导致的责任...
两种方法在处理测试和分选结果时都需要执行强大的运算，就像区域性PAT和其它故障模式一样。区域性PAT的实例是一块晶圆中的一颗合格芯片被多块有故障的芯片包围。研究显示：这颗合格元器件很可能过早出现故障，要努力减少汽车元器件中的DPM，大部份供货商都必须找到这颗合格元器件。
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