您好,欢迎光临!   请登录 免费注册    
  您的位置:电子变压器资讯网 > 资讯中心 >  电源行业 > 正文
IC封装对EMI性能的影响
[发布时间]:2021年11月24日 [来源]:网络 [点击率]:8015
【导读】: 1.前言  开关电源中电磁干扰 (EMI) 的起源可以追溯到功率金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 开关过程中产生的瞬态电压 (dvdt) 和电流 (didt)。 ) 设备。随着对更大...

  4.FCOL QFN(TI 将此封装标记为 HotRod)
  FCOL QFN 封装旨在进一步减少开关节点振铃(作为 EMI 的贡献者之一)。在这种类型的封装中,没有将 IC 连接到引线框架的电线。焊料凸点放置在 IC 芯片上;然后将芯片翻转并连接到引线框架。图 5 是封装横截面。

 

图 5:FCOL QFN 封装横截面

  从开关节点振铃的角度来看,由此产生的性能得到了显着改善,因为没有将 IC 连接到引线框架和 PCB 的电线。IC 与外部世界之间的连接更短且直接。毫不奇怪,当观察开关节点波形时(在与 TSSOP 和 QFN 相同的条件下),开关节点振铃显着减少(几乎完全没有)。图 6 显示了LM53635器件上的开关节点振铃。

图 6:FCOL QFN 封装的开关节点波形

  根据我们所需的性能和应用限制,我们应该仔细考虑封装类型这一重要的选择标准。新一代器件在开关节点振铃方面的性能显着提高。

(敬请关注微信订阅号:dzbyqzx)

 

[上一页] [1] [2] [下一页]
投稿箱:
   电子变压器、电感器、磁性材料等磁电元件相关的行业、企业新闻稿件需要发表,或进行资讯合作,欢迎联系本网编辑部QQ: , 邮箱:info%ett-cn.com (%替换成@)。
第一时间获取电子变压器行业资讯,请在微信公众账号中搜索“电子变压器资讯”或者“dzbyqzx”,或用手机扫描左方二维码,即可获得电子变压器资讯网每日精华内容推送和最优搜索体验,并参与活动!
温馨提示:回复“1”获取最新资讯。