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如何准确的测量开关损耗
[发布时间]:2019年7月26日 [来源]:电子产品世界 [点击率]:8729
【导读】: 一、开关损耗  由于开关管是非理想型器件,其工作过程可划分为四种状态,如图1所示。“导通状态”表示开关管处于导通状态;“关闭状态”表示开关管处于关闭状态;“导通过程”是指开关管从关闭转换成导通状态...

图3  导通电阻与电流的关系

  四、开关损耗
  开关损耗指的是总体的能量损耗,由导通过程损耗、关闭过程损耗、导通损耗组成,使用下面公式计算:

  五、开关损耗分析插件
  高端示波器通常亦集成了开关损耗分析插件,由于导通状态电压测量不准确,所以导通状态的计算公式是可以修改的,主要有三种:

  UI,U和I均为测量值

  I2R,I为测量值,R为导通电阻,由用户输入Rds(on)

  UceI,I为测量值,Uce为用户输入的电压值,用于弥补电压电压测不准的问题。

  一般建议使用I2R的公式,下图是ZDS4000 Plus的开关损耗测试图。

图4  开关损耗测试结果图

  六、总结
  开关损耗测试对于器件评估非常关键,通过专业的电源分析插件,可以快速有效的对器件的功率损耗进行评估,相对于手动分析来说,更加简单方便。对于MOSFET来说,I2R的导通损耗计算公式是最好的选择。

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